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MSOP封装,采用这种封装技术的电子元器件如何排查内部缺陷?
分类:公司动态
发布时间:2022-12-07
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Miniature Small Outline Package微型小外形封装,简称MSOP,电子元器件的封装形式之一,广泛应用于8个脚、10个脚、12个脚、16个脚的集成电路的封装,就是两侧具有翼形或J形短引线的一种表面组装元器件的封装形式。


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封装电子元器件,首先是为了与外界隔离,隔离空气中的杂质,防止电子元器件电气性能下降,保护电子元器件表面以及连接引线等;其次是便于实装操作,封装的尺寸调整功能可由集成电路的极细引线间距,调整到实装基板的尺寸间距。采用MSOP封装技术进行封装的电子元器件,可以使用正业科技X-RAY检测设备对元器件内部缺陷进行排查。


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X-RAY检测设备排查电子元器件内部缺陷的具体操作流程如下:

1.X-ray发生器发出X射线,穿透芯片内部,平板探测器接收X射线之后进行成像;

2.图像算法软件对图像进行分析、判断,将芯片的不良项检测出来,确定良品与不良品;

3.CCD成像系统自动定位到缺陷位置、自动关联X-Ray成像结果,标记出不良项;

4.利用复盘功能,确定芯片在料盘中的序号(可满足7英寸、11英寸、13英寸料盘的需求),在生产线后端将不良芯片挑出。


我们知道,使用了有缺陷的芯片是无法发挥产品本身的性能的,并且会影响生产线的正常运作,如芯片翘曲会带来一系列制造问题,在PBGA器件中,翘曲会导致焊料球共面性差,在回流焊过程中,PBGA组装到印刷电路板就会发生贴装问题,所以说引进X-RAY检测设备对封装芯片缺陷进行检测是非常有必要的。


以上就是今天给大家带来的MSOP封装技术相关内容的介绍,想了解更多有关芯片封装检测信息的朋友可以直接咨询正业科技。


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